全国服务咨询热线:

18687221347

article技术文章
首页 > 技术文章 > 大型非接触式3D激光扫描仪测量低维材料真有一套

大型非接触式3D激光扫描仪测量低维材料真有一套

发布时间:2022-08-09      点击次数:146
  大型非接触式3D激光扫描仪是一款准确可靠的三维(3D)测量高速共聚焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微镜图像。它在测量和检测微型三维结构方面拥有理想的解决方案,例如半导体晶圆、FPD产品、MEMS器件、玻璃基板和材料表面。
  
  大型非接触式3D激光扫描仪能有效处理不一致性问题,让用户不再为成本增加、生产和零件审批延迟而烦恼。该系统可用于生产工具、夹具、配件、半成品或成品的逆向工程和尺寸检测。测量尺寸在0.2M~6m之间,精度可达0.064mm。采用光学测量方式,测量精度不易受环境变化影响。因此,它是车间质量控制测量解决方案的选择。它不需要固定的测量设置,无论环境发生什么变化都不会影响其性能水平。可以帮助操作人员更好地管理生产过程,更快地满足制造业对质量控制(QC)的更高要求,同时不影响生产效率。
 
  

大型非接触式3D激光扫描仪
 

 

  大型非接触式3D激光扫描仪是测量低维材料的有前途的解决方案。它可以测量微米和亚微米结构的高度、宽度、角度、面积和体积,例如:
  
  1、半导体:IC图形、凸点高度、线圈高度、缺陷检测、CMP工艺。
  
  2、FPD产品:触摸屏检测、ITO图案、LCD列间距高度。
  
  3、MEMS器件:结构3D轮廓、表面粗糙度、MEMS图形。
  
  4、玻璃表面:薄膜太阳能电池、太阳能电池纹理、激光图案。
  
  5、材料研究:模具表面检测、粗糙度、裂纹分析。
Nanoscope Systems lnc
地址:中华人民共和国上海市虹口区宝山路778号
邮箱:info@nanoscope.net.cn
传真:86-21-60852363
关注我们
欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息:
欢迎您关注我们的微信公众号
了解更多信息