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  • NS3500高速3D激光共聚焦显微镜
    NS3500高速3D激光共聚焦显微镜

    NS3500高速3D激光共聚焦显微镜是韩国Nanoscope Systems 公司专门为低维材料研究所研发的一款高速3D显微镜。与传统的3D探针轮廓仪相比较,NS3500使用405nm的激光作为光源,进行无损伤检测,不与样品的表面直接接触,因此不会损伤样品的表面,测量精度远远高于探针轮廓仪。

    时间:2024-06-05型号:NS3500访问量:3203
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  • NS3600激光三维表面轮廓仪
    NS3600激光三维表面轮廓仪

    NS3600 激光三维表面轮廓仪是韩国Nanoscope Systems 公司专门为低维材料科学研究所研发的一款激光共聚焦显微镜。NS3600 采用的是638nm 的激光作为光源,测量时无需与样品表面接触即可获得样品表面的三维测量数据,是进行材料表面检测有效的工具。

    时间:2024-06-05型号:NS3600访问量:3247
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  • NS3800高速3D激光共聚焦显微镜
    NS3800高速3D激光共聚焦显微镜

    NS3800高速3D激光共聚焦显微镜是韩国Nanoscope Systems 公司专门为低维材料研究所研发的一款高速3D显微镜。与传统的3D探针轮廓仪相比较,NS3800使用405nm的激光作为光源,进行无损伤检测,不与样品的表面直接接触,因此不会损伤样品的表面,测量精度远远高于探针轮廓仪。

    时间:2024-06-05型号:NS3800访问量:2460
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  • NS3500 Solar 半导体晶圆质量检测系统
    NS3500 Solar 半导体晶圆质量检测系统

    NS-3500 Solar 是韩国Nanoscope Systems 针对半导体晶圆质量检测设计的一种准确、可靠的测量系统,通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。使用高精度PZT,操作简便,拥有自动对焦、自动测量等功能。应用于半导体、太阳能。芯片、OLED等工业生产控制。可拓展在线检测。

    时间:2024-06-05型号:访问量:2212
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  • NS3500 H 大面积高速三维成像扫描系统
    NS3500 H 大面积高速三维成像扫描系统

    NS-3500是一种可靠的三维扫描系统。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,可以为半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等提供各种解决方案。

    时间:2024-06-05型号:访问量:2205
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  • NS3500 G大型非接触式3D激光扫描仪
    NS3500 G大型非接触式3D激光扫描仪

    NS-3500G 是一种可靠的三维非接触式扫描仪。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,可以为半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等提供各种解决方案。

    时间:2024-06-05型号:NS3500 G访问量:1249
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  • NS3500 L大面积高速3D激光扫描仪
    NS3500 L大面积高速3D激光扫描仪

    NS-3500L 是一种准确、可靠的大面积高速3D激光扫描仪。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,可以为半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等提供各种解决方案。

    时间:2024-06-05型号:NS3500 L访问量:1242
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